专利详情

专利名称	一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法
申请号	CN200910248934.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102116840A	公开（授权）日	2011.07.06
申请（专利权）人	中国科学院沈阳自动化研究所	发明（设计）人	杨志家;吕岩;马继开;谢闯;刘志峰;段茂强
主分类号	G01R31/3185(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/3185(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法至一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开一种基于贪心策略的FPGA局部互联测试方法，基于FPGA实际结构模型化，采用基于“影响因数”的贪心策略算法对这些连接关系进行分组，最终的分组结果反映到目标FPGA上即是一个完备的局部互联测试配置集。在进行分组的过程中，为了更加体现实用性，本发明还提供了可以根据目标器件的局部互联本身，或全局互联的结构特点进行分组条件约束的机制。本发明方法能够自动生成FPGA局部测试配置，且不依赖具体某一FPGA的结构，具有普适性，能够被广泛的推广；本发明采取了基于“影响因数”的贪心策略，实现了测试配置集的最小化和对局部互联资源的全覆盖；本发明充分考虑了FPGA器件本身的结构约束，确保生成的配置能够在实际器件中实现。