专利详情

专利名称	一种采用交流电法测定离子交换膜面电阻的装置
申请号	CN201010514548.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102455310A	公开（授权）日	2012.05.16
申请（专利权）人	中国科学院过程工程研究所	发明（设计）人	石绍渊;赵西云;丛威;吴霞;温树梅;王倩
主分类号	G01N27/04(2006.01)I	IPC主分类号	G01N27/04(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I
专利有效期	一种采用交流电法测定离子交换膜面电阻的装置至一种采用交流电法测定离子交换膜面电阻的装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种采用交流电法测定离子交换膜面电阻的装置。该装置包括：测试电导池(I)、控温水浴槽(II)、LCR测试仪(III)；所述的测试电导池(I)置于控温水浴槽(II)中，包括：固定的主臂(8)和可转动设置在主臂(8)上的副臂(3)，该两臂下端相向设置有通过转动副臂(3)可扣合的两个半室(5)，该两个半室(5)扣合夹紧离子交换膜(10)；所述的两个半室(5)的底面设有铂片电极(6)，并分别通过两臂上的导线密封槽(4)引出2根电极导线，并经开尔文夹引线与LCR测试仪连接。本发明的优点在于可以简便快速测试离子交换膜的面电阻，并且对膜面电阻的测量是非损伤性的，也有助于提高测试精度和减小膜不均匀性所引起的误差。