一种微电极油膜厚度测定装置及其测定方法
- 申请号:CN201010218973.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院海洋研究所
- 公开(公开)号:CN102297648A
- 公开(公开)日:2011.12.28
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种微电极油膜厚度测定装置及其测定方法 | ||
申请号 | CN201010218973.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102297648A | 公开(授权)日 | 2011.12.28 |
申请(专利权)人 | 中国科学院海洋研究所 | 发明(设计)人 | 宋金明;李学刚;袁华茂;李宁 |
主分类号 | G01B7/06(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B7/06(2006.01)I;F16H1/00(2006.01)I |
专利有效期 | 一种微电极油膜厚度测定装置及其测定方法 至一种微电极油膜厚度测定装置及其测定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明属于海洋监测领域,具体地说是一种微电极油膜厚度测定装置及其测定方法,装置包括支架平台、步进器、电导读数器及电导微电极,其中步进器及电导读数器分别安装在支架平台上;步进器上安装有粗、微调旋钮,电导微电极的一端连接在步进器的下部、并通过粗、微调旋钮上下往复移动,另一端为自由端、设有疏油图层;电导微电极通过导线与电导读数器相连;方法为利用步进器驱动电导微电极上下移动,使其依次接触油膜及水,通过电导读数器显示的电导率的突变,计算步进器上刻度盘的示数差,得出油膜厚度。本发明通过电导微电极可以精确地测量油膜内外电导率的细微变化,步进器具有粗调和微调两档步进功能,可以精确地推进电导微电极的位移。 |
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