专利详情

专利名称	一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统
申请号	CN200910051791.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101551273	公开（授权）日	2009.10.07
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	陆金星;黄志明;沈学民;侯云;舒嵘;王彪;戴宁;储君浩
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;G01N21/00(2006.01)I;G02F1/35(2006.01)I
专利有效期	一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统至一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统，具有频谱分辨率高，测量速度快，测量结果信噪比高的优点，同时可以对样品进行太赫兹波段的扫描成像。该发明基于非线性光学差频原理生成高功率且稳定的太赫兹源，设计合理可行的光学与机械结构，利用计算机进行精准控制，使用高莱探测器对太赫兹波进行双光路测量，最终实现高精度快速自动化测量样品太赫兹波段透射谱和反射谱特性的目的。