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基于二氧化钒纳米线的纳米材料导热系数的测量系统

  • 申请号:CN201220458222.4
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学技术大学
  • 公开(公开)号:CN202770798U
  • 公开(公开)日:2013.03.06
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 基于二氧化钒纳米线的纳米材料导热系数的测量系统
申请号 CN201220458222.4 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN202770798U 公开(授权)日 2013.03.06
申请(专利权)人 中国科学技术大学 发明(设计)人 范雯;季杰
主分类号 G01N25/20(2006.01)I IPC主分类号 G01N25/20(2006.01)I
专利有效期 基于二氧化钒纳米线的纳米材料导热系数的测量系统 至基于二氧化钒纳米线的纳米材料导热系数的测量系统 法律状态 授权
说明书摘要 本实用新型涉及基于二氧化钒纳米线的纳米材料导热系数的测量系统。该系统包括二氧化钒纳米线悬臂梁、激光热源机构、光学显微镜机构和真空压力腔机构;激光热源机构和光学显微镜机构位于真空压力腔机构外部。真空压力腔体内一侧设有硅片基底,二氧化钒纳米线悬臂梁的一端连接着硅片基底,一端为悬壁端,二氧化钒纳米线悬臂梁与真空压力腔体顶部的玻璃窗口对应;光学显微镜机构位于玻璃窗口外部的上方;测量时,待测纳米线悬臂梁的一端连接着硅片基底,且位于二氧化钒纳米线悬臂梁的上方;待测纳米线悬臂梁的另一端为悬臂梁,连接着二氧化钒纳米线悬臂梁的悬臂端。本实用新型用于相关热物性测量,成本低,防止纳米线表面出现加速老化,提高了测量的准确度。

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