专利详情

专利名称	基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法
申请号	CN200810102312.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101540000	公开（授权）日	2009.09.23
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	谭铁牛;孙哲南;邱显超;何召锋
主分类号	G06K9/62(2006.01)I	IPC主分类号	G06K9/62(2006.01)I;G06K9/00(2006.01)I
专利有效期	基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法至基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法	法律状态	授权
说明书摘要	本发明公开了一种基于纹理基元统计特性分析的虹膜分类方法，包括：S1.对训练集中清晰的虹膜图像进行预处理，得到感兴趣区域 ROI，对ROI区域进行特征提取，对提取的纹理特征进行训练并建模，获得虹膜粗分类模型；S2.对任意输入的清晰虹膜图像进行预处理，得到ROI区域，然后进行特征提取，将提取得到的虹膜纹理特征输入到步骤S1训练得到的模型中，获得输入虹膜图像的类别信息。利用本发明，使得完成一次虹膜比对的平均时间缩短，达到实时的效果，有效地加快了虹膜识别技术在大规模数据库中进行特征模板比对的速度。