
利用频率光梳实现太赫兹快速成像的太赫兹时域光谱系统
- 申请号:CN201210472804.2
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN102980857A
- 公开(公开)日:2013.03.20
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 利用频率光梳实现太赫兹快速成像的太赫兹时域光谱系统 | ||
申请号 | CN201210472804.2 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102980857A | 公开(授权)日 | 2013.03.20 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 熊伟;姚军;张铁军;汪为民 |
主分类号 | G01N21/31(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/31(2006.01)I |
专利有效期 | 利用频率光梳实现太赫兹快速成像的太赫兹时域光谱系统 至利用频率光梳实现太赫兹快速成像的太赫兹时域光谱系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种利用频率光梳实现太赫兹快速成像的太赫兹时域光谱系统,该系统利用周期结构的透射特性,把不同结构单元复合到同一区域内,得到透射峰叠加的透射谱,叠加后的透射谱将在频谱上形成频率光梳。成像光梳的透射特性与周期结构的空间排列位置有关,利用这一相关性,可以使用大光斑太赫兹光束入射到成像光梳和待测物体上,使用点探测收集透射信号。经过数据处理提取出待测物体的透射特征空间分布信息,实现快速成像。本发明适用于宽频段太赫兹成像,相对于传统的逐点扫描成像,大大节省了成像时间,为太赫兹成像检测提供了一种新思路,对太赫兹安检及识别的大规模化实用具有重大意义。 |
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