
光反射差法检测生物芯片装置中的小孔部件与检测方法
- 申请号:CN200810101699.5
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院物理研究所
- 公开(公开)号:CN101532944
- 公开(公开)日:2009.09.16
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 光反射差法检测生物芯片装置中的小孔部件与检测方法 | ||
申请号 | CN200810101699.5 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101532944 | 公开(授权)日 | 2009.09.16 |
申请(专利权)人 | 中国科学院物理研究所 | 发明(设计)人 | 吕惠宾;温娟;陆珩;金奎娟;周岳亮;杨国桢 |
主分类号 | G01N21/17(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/17(2006.01)I;G01N33/48(2006.01)I;C12Q1/00(2006.01)I |
专利有效期 | 光反射差法检测生物芯片装置中的小孔部件与检测方法 至光反射差法检测生物芯片装置中的小孔部件与检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及一种光反射差法检测生物芯片装置中的小孔部件及检测 方法,所述的小孔部件为一块不透明的金属或塑料平板上开一个小孔,该 小孔的大小根据检测需要的探测光光斑大小和形状设计,并安装在可旋转 90-360度的调节座上。检测方法:将小孔部件,设置在光反射差法的装 置的入射光路中,入射光从小孔透过,小孔可绕垂直于光束的中心线和光 的入射平面旋转,用改变入射光束形状的方法调节入射到被检测生物芯片 表面的光斑形状,因此可以探测到仅为几十微米的生物样品点,真实地记 录它们的信息,克服了斜入射光反射差法使入射到样品表面的光斑被拉长 变大,难以高通量检测生物样品芯片的缺点和不足,实现对生物芯片的高 通量检测。 |
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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