用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置
- 申请号:CN201220397425.7
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院上海硅酸盐研究所
- 公开(公开)号:CN202886304U
- 公开(公开)日:2013.04.17
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置 | ||
申请号 | CN201220397425.7 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN202886304U | 公开(授权)日 | 2013.04.17 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明(设计)人 | 杨莉萍;奚同庚;蔡岸;徐子君;钟秋;雒彩云 |
主分类号 | G01N25/18(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/18(2006.01)I;G01N25/20(2006.01)I |
专利有效期 | 用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置 至用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型提供了一种固体材料热扩散率测量用的低温-加热装置,其可提供-180℃~300℃的测量温度范围。该装置设有低温-加热炉、试样支架和真空罩体。所述低温-加热炉采用双层结构,外层为不锈钢环筒形液氮腔,液氮腔中心的内层装有电加热管,置于电加热管中的试样支架采用点接触式,低温-加热装置置于真空罩体中。本实用新型低温-加热装置温控速度快,结构简单,且室温以下温度仅需1小时即可稳定,室温以上温度仅需0.5小时即可稳定。 |
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