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用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置

  • 申请号:CN201220397425.7
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 公开(公开)号:CN202886304U
  • 公开(公开)日:2013.04.17
  • 法律状态:
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置
申请号 CN201220397425.7 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN202886304U 公开(授权)日 2013.04.17
申请(专利权)人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明(设计)人 杨莉萍;奚同庚;蔡岸;徐子君;钟秋;雒彩云
主分类号 G01N25/18(2006.01)I IPC主分类号 G01N25/18(2006.01)I;G01N25/20(2006.01)I
专利有效期 用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置 至用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置 法律状态
说明书摘要 本实用新型提供了一种固体材料热扩散率测量用的低温-加热装置,其可提供-180℃~300℃的测量温度范围。该装置设有低温-加热炉、试样支架和真空罩体。所述低温-加热炉采用双层结构,外层为不锈钢环筒形液氮腔,液氮腔中心的内层装有电加热管,置于电加热管中的试样支架采用点接触式,低温-加热装置置于真空罩体中。本实用新型低温-加热装置温控速度快,结构简单,且室温以下温度仅需1小时即可稳定,室温以上温度仅需0.5小时即可稳定。

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