
一种单粒子效应测试装置及系统
- 申请号:CN201210590234.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN103063961A
- 公开(公开)日:2013.04.24
- 法律状态:公开
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专利详情
专利名称 | 一种单粒子效应测试装置及系统 | ||
申请号 | CN201210590234.7 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103063961A | 公开(授权)日 | 2013.04.24 |
申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 王德坤;谢朝辉;赵明琦;刘海南;周玉梅;黑勇 |
主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
专利有效期 | 一种单粒子效应测试装置及系统 至一种单粒子效应测试装置及系统 | 法律状态 | 公开 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种单粒子效应测试装置及系统,该测试装置包括:旋转机构和与所述旋转机构相连的测试母板,所述测试母板上设置有多个测试子板,其中:每一测试子板用于安装被测器件;所述旋转机构用于获取控制请求,并根据控制请求驱动所述测试母板转动或者停止,使得每一测试子板接收加速器朝固定方向辐射的高能带电粒子。在该测试装置中,增加了测试子板的个数和被测器件的数量,减少了更换被测器件的次数,解决了现有技术中,由于需要频繁的更换被测器件而使得操作繁琐的问题,且每次更换被测器件进行抽真空操作浪费加速器的资源的问题。 |
交易流程
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