专利详情

专利名称	一种内建自测试装置及一种使用片上系统进行测试的系统
申请号	CN201120552306.X	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN202837493U	公开（授权）日	2013.03.27
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	粟雅娟;陈岚
主分类号	G01R31/3181(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/3181(2006.01)I
专利有效期	一种内建自测试装置及一种使用片上系统进行测试的系统至一种内建自测试装置及一种使用片上系统进行测试的系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型公开了一种内建自测试装置及一种使用片上系统进行测试的系统可以独立于IP核之外，适用于多个IP，包括：测试图形发生器、存储器、控制器和测试响应压缩器，存储器存储参考特征向量及随机种子；测试图形发生器根据输入的测试数据和随机种子产生测试图形并加载到所述IP核中；测试响应压缩器将所述IP核返回的测试响应数据压缩为测试特征向量；控制器根据所述测试特征向量与所述参考特征向量的比较结果获得测试结果。本实用新型使得IP中可以不用再设置传统的内建自测试装置。因此，本实用新型可以减小IP的面积。