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时间分辨的双光栅干涉仪

  • 申请号:CN200810055784.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
  • 公开(公开)号:CN101482432
  • 公开(公开)日:2009.07.15
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 时间分辨的双光栅干涉仪
申请号 CN200810055784.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101482432 公开(授权)日 2009.07.15
申请(专利权)人 中国科学院电子学研究所 发明(设计)人 祁志美;邓琳;逯丹凤;夏善红
主分类号 G01J9/02(2006.01)I IPC主分类号 G01J9/02(2006.01)I;G01K11/00(2006.01)I;G01B9/02(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I
专利有效期 时间分辨的双光栅干涉仪 至时间分辨的双光栅干涉仪 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明一种时间分辨的双光栅干涉仪,是利用两平行光栅将一束平行 光经两次衍射产生多束时间分辨的干涉光。由光源发出的平行光束透过第 一个光栅后得到多束衍射光,其中两束对称衍射光A和A′经反射镜反射 到第二个光栅的同一位置,使得两光束透过第二个光栅后只产生一套衍射 光斑。每一束衍射光都含有来自光束A和A′的成分,是时间分辨的干涉 光束。如果在两平行光栅之间放置一个透明样品池,并使光束A或A′透 过样品池,那么通过使用光强探测器监测任一束干涉光相位差随时间的变 化,就能探测到样品池内物质的物理或化学变化。本发明的双光栅干涉仪 能够被用来制备化学和生物传感器,也可用来测定温度、液体的折射率和 薄膜的光学厚度。

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