专利详情

专利名称	一种基于原子力显微镜的纳米热电塞贝克系数原位定量表征装置
申请号	CN201210206249.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102692524A	公开（授权）日	2012.09.26
申请（专利权）人	中国科学院上海硅酸盐研究所	发明（设计）人	曾华荣;陈立东;赵坤宇;惠森兴;殷庆瑞;李国荣
主分类号	G01Q60/24(2010.01)I	IPC主分类号	G01Q60/24(2010.01)I;G01N27/00(2006.01)I
专利有效期	一种基于原子力显微镜的纳米热电塞贝克系数原位定量表征装置至一种基于原子力显微镜的纳米热电塞贝克系数原位定量表征装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本申请公开了一种基于原子力显微镜的纳米热电塞贝克系数原位定量表征装置，用于检测一被测纳米热电材料样品的微区塞贝克系数，包括：一谐波信号的原子力显微镜原位激励平台，用于提供发展纳米热电塞贝克系数原位表征装置的原子力显微镜平台，并原位同时激发纳米热电材料微区二倍频、三倍频谐波信号；一纳米热电塞贝克系数原位检测平台，用于实现所述纳米热电材料微区二倍频、三倍频的原位实时检测和处理，并显示微区塞贝克系数热电参量的原位表征结果。本申请将原子力显微镜纳米检测功能、宏观热导三倍频测试原理、焦耳热效应原理及宏观塞贝克系数测试原理相结合，建立起基于商用原子力显微镜热探针所诱导的谐波效应来表征纳米塞贝克系数的新方法。