专利详情

专利名称	一种加速集成电路物理版图分析和优化的方法
申请号	CN201010214239.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102314523A	公开（授权）日	2012.01.11
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	吴玉平;陈岚;叶甜春
主分类号	G06F17/50(2006.01)I	IPC主分类号	G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	一种加速集成电路物理版图分析和优化的方法至一种加速集成电路物理版图分析和优化的方法	法律状态	授权
说明书摘要	本发明公开一种加速集成电路物理版图分析和优化的方法，涉及集成电路技术领域。本方法根据输入的集成电路物理版图数据，对物理版图按计算节点进行区域划分，对不同计算节点内的区域进行同构分析，确定各计算节点内及相互之间的相同区域分析顺序，按顺序对物理版图区域进行分析和优化，在分析和优化过程中复用计算节点之间同构区域分析和优化的结果。本发明利用多级区域分割算法对物理版图进行划分，利用同构分析方法对划分后区域进行分析，找出其中相同的区域，让时间顺序上在后的要分析和优化的区域，不用再进行计算，而是直接复用与其完全相同的在先区域计算结果，从而节约时间，提高速度。