轴锥镜透射波面的测量方法
- 申请号：CN201210297844.8
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN102798353A
- 公开(公开)日：2012.11.28
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 轴锥镜透射波面的测量方法 | ||
| 申请号 | CN201210297844.8 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN102798353A | 公开（授权）日 | 2012.11.28 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 袁乔;曾爱军;张善华;黄惠杰 |
| 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I |
| 专利有效期 | 轴锥镜透射波面的测量方法 至轴锥镜透射波面的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种轴锥镜透射波面的测量方法，包括①制备凹面锥形反射镜、②安装测试装置、③调整光路和④测量四个步骤，该方法具有装置简单、对轴锥镜的锥角没有限制和易于测量等优点。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
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可交易 - 03 签订合同
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