一种基于量子点的中子能谱测量方法
- 申请号：CN201210282551.2
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院合肥物质科学研究院
- 公开(公开)号：CN102788990A
- 公开(公开)日：2012.11.21
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种基于量子点的中子能谱测量方法 | ||
| 申请号 | CN201210282551.2 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN102788990A | 公开（授权）日 | 2012.11.21 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 祝庆军;宋逢泉;宋钢;廖燕飞;吴宜灿 |
| 主分类号 | G01T3/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T3/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种基于量子点的中子能谱测量方法 至一种基于量子点的中子能谱测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种基于量子点的中子能谱测量方法，通过使用若干种不同种类的量子点作为中子探测器，根据各种量子点对入射中子产生光学信号的差异，获得入射中子的能谱信息等。本发明提出了一种新的能谱测量的新方法，适用于从10-9MeV-100MeV的中子能谱测量。 | ||
交易流程
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专利 -
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