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一种磁控溅射制备单一取向锰钴镍氧薄膜的方法

  • 申请号:CN201210211532.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
  • 公开(公开)号:CN102732848A
  • 公开(公开)日:2012.10.17
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种磁控溅射制备单一取向锰钴镍氧薄膜的方法
申请号 CN201210211532.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102732848A 公开(授权)日 2012.10.17
申请(专利权)人 中国科学院上海技术物理研究所 发明(设计)人 黄志明;周炜;徐晓峰;吴敬;张雷博;褚君浩
主分类号 C23C14/35(2006.01)I IPC主分类号 C23C14/35(2006.01)I;C23C14/08(2006.01)I;C23C14/54(2006.01)I;C23C14/58(2006.01)I
专利有效期 一种磁控溅射制备单一取向锰钴镍氧薄膜的方法 至一种磁控溅射制备单一取向锰钴镍氧薄膜的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种磁控溅射制备单一取向锰钴镍氧薄膜的方法,应用该法,可制备出大面积、致密性良好的MCN薄膜。相比溶胶-凝胶法制备的多晶MCN薄膜,该法参数控制更精确,制备出的薄膜致密度更高,且薄膜呈(110)高度择优取向。利用该法制作的MCN薄膜,可用于制造线列及面阵热敏探测器件,以及制作微桥结构和顶底电极结构热敏探测器件。

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