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半导体器件结构及其制作方法

  • 申请号:CN201010242704.1
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN102347277A
  • 公开(公开)日:2012.02.08
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 半导体器件结构及其制作方法
申请号 CN201010242704.1 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102347277A 公开(授权)日 2012.02.08
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 钟汇才;梁擎擎;尹海洲
主分类号 H01L21/8234(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/8234(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I;H01L27/088(2006.01)I;H01L23/528(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I
专利有效期 半导体器件结构及其制作方法 至半导体器件结构及其制作方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本申请公开了一种半导体器件结构及其制作方法。该方法包括:在半导体衬底上形成栅极线;环绕栅极线形成栅极侧墙;在栅极线的两侧,嵌入半导体衬底中形成源/漏区;环绕栅极侧墙形成导电侧墙;以及在预定区域切断栅极线、栅极侧墙和导电侧墙,切断的栅极线形成电隔离的栅极,切断的导电侧墙形成电隔离的下接触部。本发明的实施例适用于集成电路中接触部的制造。

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