专利详情

专利名称	一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置
申请号	CN201210305222.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102830090A	公开（授权）日	2012.12.19
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	倪磊;杨月英;廖胜;任栖峰
主分类号	G01N21/41(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/41(2006.01)I
专利有效期	一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置至一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置，该装置包括准直光源系统、分光镜、瞄准系统、低温真空仓、样品仓、双面旋转反射镜、电控旋转台和平行光管。当样品仓中温度降低时，样品的折射率会随着改变，偏向角δ也会有微小的变化Δδ，偏向角变化量可由平行光管测量出，从而得到低温下材料的折射率改变。本发明基于最常用的垂直入射法的，原理简单，操作方便，所测得样品棱镜可以是红外材料也可以是可见光波段的材料，应用范围广，用平行光管代替了一般测量用的编码器，平行光管测角度的微小变化准确度高，能很好的应用于测量低温下材料射率变化引起的偏向角的微小变化，降低了装置成本，提高了偏向角测量精度。