专利详情

专利名称	加速设计规则检查的方法及装置
申请号	CN201110351640.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102346800A	公开（授权）日	2012.02.08
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	吴玉平;陈岚;叶甜春
主分类号	G06F17/50(2006.01)I	IPC主分类号	G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	加速设计规则检查的方法及装置至加速设计规则检查的方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种加速设计规则检查的方法，包括：将集成电路设计的版图划分为多个子区域；将几何同构的子区域置于同一个同构列表中；对每个同构列表中的至少一个子区域进行设计规则检查；根据同构列表中子区域间的几何关系和已得到的子区域的设计规则检查的结果，计算得到同构列表中其他子区域的设计规则检查的结果。通过复用设计规则检查的结果，不用对整个版图区域进行设计规则检查，减少了集成电路版图中设计规则检查的数量，进而提高设计规则检查的速度，缩短集成电路设计的周期。