哈特曼波前探测器与入射光束的孔径对准方法
- 申请号:CN201210264033.8
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN102829882A
- 公开(公开)日:2012.12.19
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 哈特曼波前探测器与入射光束的孔径对准方法 | ||
申请号 | CN201210264033.8 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102829882A | 公开(授权)日 | 2012.12.19 |
申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 宣丽;穆全全;曹召良;胡立发;彭增辉;李大禹;刘永刚;夏明亮;姚丽双;杨程亮;鲁兴海 |
主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I;G02B27/30(2006.01)I |
专利有效期 | 哈特曼波前探测器与入射光束的孔径对准方法 至哈特曼波前探测器与入射光束的孔径对准方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明是哈特曼波前探测器与入射光束的孔径对准方法。其特征如图所示,传统的哈特曼波前探测器由微透镜阵列1、第一透镜2、第二透镜3、光电探测器4组成,其中第一透镜2、第二透镜3构成哈特曼波前探测器的转接镜头;本发明在哈特曼波前探测器的转接镜头上设计能插入、拔出的凹透镜5,当进行哈特曼波前探测器与入射光束孔径对准时,将凹透镜5插入到转接镜头中的光路上,从而使光电探测器4上的光点阵列像切换为微透镜阵列1的实物像,实现可视化地调节微透镜阵列1的位置,使入射光束孔径与哈特曼波前探测器孔径对准。孔径对准完成后将凹透镜5移出光路,恢复为传统配置的哈特曼波前探测器,可以进行波前探测。 |
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