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高分辨率光学成像方法及设备

  • 申请号:CN200810018269.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN101344645
  • 公开(公开)日:2009.01.14
  • 法律状态:专利申请权、专利权的转移
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 高分辨率光学成像方法及设备
申请号 CN200810018269.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101344645 公开(授权)日 2009.01.14
申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 陈立武;赵葆常;杨建峰;马小龙;常凌颖;贺应红;薛斌
主分类号 G02B27/58(2006.01)I IPC主分类号 G02B27/58(2006.01)I;G01C11/00(2006.01)I;G01S17/89(2006.01)I
专利有效期 高分辨率光学成像方法及设备 至高分辨率光学成像方法及设备 法律状态 专利申请权、专利权的转移
说明书摘要 本发明涉及一种光学成像方法及设备,包括子孔径成像系统(1),沿光路 设置的子孔径准直镜(3)、反射镜(4)、多子孔径光束合成反射镜(5)、准直 镜(7)、剪切干涉仪(8)、相干成像镜(9)以及CCD像面(10)。其解决了背 景技术中成像技术复杂以及成像设备体积、重量大、成本高的技术问题。本发 明中应用了具有高效分光特性的剪切干涉仪,具有分辨率高的优点。

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