专利详情

专利名称	一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法
申请号	CN201010236533.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102339341A	公开（授权）日	2012.02.01
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	吴玉平;陈岚;叶甜春
主分类号	G06F17/50(2006.01)I	IPC主分类号	G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法至一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法，属于集成电路设计自动化领域。本发明利用电路级前仿真结果作为输入，分析出信号的变化频率和变化幅度，再对器件和线网进行分类，确定敏感线网和敏感器件及主要噪声源器件和噪声源线网，利用LVS原理定位器件和物理线网，据此对提取区域的精度控制进行分类，从而支持对不同区域采取不同的精度控制提取寄生参数。本发明可有效地缩小计算规模、提高寄生参数提取精度和提高后续电路仿真速度，又不失后续电路仿真的准确性。