金标免疫层析试纸条检测系统的性能校正方法
- 申请号:CN201210185414.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN102707051A
- 公开(公开)日:2012.10.03
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 金标免疫层析试纸条检测系统的性能校正方法 | ||
申请号 | CN201210185414.7 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102707051A | 公开(授权)日 | 2012.10.03 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 黄立华;陈贝特;郭凯;黄惠杰 |
主分类号 | G01N33/558(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N33/558(2006.01)I |
专利有效期 | 金标免疫层析试纸条检测系统的性能校正方法 至金标免疫层析试纸条检测系统的性能校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种金标免疫层析试纸条检测系统的性能校正方法。首先,使用金标试纸条检测系统的光电探测器记录金标条比色卡对应的数据信息,再根据金标条比色卡标识的颜色与检测物浓度的对应关系,确定金标条比色卡数据与检测物浓度的最佳响应曲线并储存。然后,需要对所述的金标试纸条检测系统的性能进行校正时,使用所述的金标条比色卡对所述的金标试纸条检测系统的当前状态进行测试,确定金标试纸条检测系统的当前响应曲线,再分段逐个比较所述的最佳响应曲线和当前响应曲线各直线段,确定当前响应曲线的各直线段对应的映射函数并储存。校正完毕。本发明使金标试纸条检测系统的数据采集经计算即可获得检测物浓度的真值,降低了由于系统老化等问题所引入的测量误差,保证了金标试纸条检测系统测量长时间的准确定量测量。 |
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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