相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置和方法
- 申请号：CN201210199435.4
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN102706539A
- 公开(公开)日：2012.10.03
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置和方法 | ||
| 申请号 | CN201210199435.4 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN102706539A | 公开（授权）日 | 2012.10.03 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曾爱军;刘龙海;朱玲琳;黄惠杰 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置和方法 至相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种用于双折射器件的相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置和方法，该装置由准直光源、圆起偏器、衍射分束元件、四分之一波片、检偏器阵列、CCD图像传感器和具有图像采集卡的计算机组成，本发明可以实时测量双折射器件的相位延迟量分布和快轴方位角分布，测量结果不受光源光强波动的影响，而且具有较大的测量范围。 | ||
交易流程
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专利 -
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