专利详情

专利名称	回转体曲线机构进给精度的检测系统
申请号	CN201120533904.2	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN202471398U	公开（授权）日	2012.10.03
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	李华;朱辉;常何民
主分类号	G01M13/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01M13/00(2006.01)I
专利有效期	回转体曲线机构进给精度的检测系统至回转体曲线机构进给精度的检测系统	法律状态	授权
说明书摘要	本实用新型提供一种回转体曲线机构进给精度的检测系统。回转体曲线机构包括回转基体和外围定位零件，外围定位零件上的定位销钉嵌入回转基体上的曲线槽中，并能够在槽内自由滑动；本实用新型的检测系统包括光学自准直仪、反射镜、能够记录转动角度的转台和用以测量外围定位零件高度的测高仪，回转基体水平固定于转台上，反射镜竖直固定于外围定位零件上，光学自准直仪位置固定，其准直轴线水平对准所述反射镜。本实用新型结果可靠；检测方法灵活；高效率；易于普及。