专利详情

专利名称	一种模拟集成电路设计调试的方法
申请号	CN201010230150.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102339328A	公开（授权）日	2012.02.01
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	吴玉平;陈岚;叶甜春
主分类号	G06F17/50(2006.01)I	IPC主分类号	G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	一种模拟集成电路设计调试的方法至一种模拟集成电路设计调试的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明适用于集成电路设计领域，提供了一种模拟集成电路设计调试的方法，所述方法包括：建立电路器件参数对电路性能的影响趋势表；分析模拟集成电路的仿真波形，确定问题波形；根据所述问题波形确定问题器件的修改参数；确定所述问题器件参数修改方向、修改范围和修改参考值；根据所述问题器件参数修改方向、修改范围和修改参考值，确定所述问题器件新的器件参数值。本发明通过分析模拟集成电路的仿真波形，确定问题波形、问题器件修改参数及参数修改方向、修改范围和修改参考值，并据此确定问题器件新的器件参数值，解决了现行模拟集成电路设计调试依赖设计人员经验和知识，设计效率低、速度慢的问题，同时提高了模拟电路设计调试的自动化水平。