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半导体制造方法

  • 申请号:CN201110077477.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN102723272A
  • 公开(公开)日:2012.10.10
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 半导体制造方法
申请号 CN201110077477.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102723272A 公开(授权)日 2012.10.10
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 李春龙;李俊峰
主分类号 H01L21/318(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/318(2006.01)I;H01L21/31(2006.01)I
专利有效期 半导体制造方法 至半导体制造方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种半导体制造方法,在虚设晶圆上沉积一层保护膜,使保护膜完全包覆虚设晶圆,这样,在热氧化工艺中,虚设晶圆不会被氧化,从而减少了虚设晶圆的消耗,降低了生产成本,并且避免了由于虚设晶圆被氧化而产生的颗粒物,使欲氧化晶圆免于沾染。

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