半导体制造方法
- 申请号:CN201110077477.6
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN102723272A
- 公开(公开)日:2012.10.10
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 半导体制造方法 | ||
申请号 | CN201110077477.6 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102723272A | 公开(授权)日 | 2012.10.10 |
申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 李春龙;李俊峰 |
主分类号 | H01L21/318(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L21/318(2006.01)I;H01L21/31(2006.01)I |
专利有效期 | 半导体制造方法 至半导体制造方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种半导体制造方法,在虚设晶圆上沉积一层保护膜,使保护膜完全包覆虚设晶圆,这样,在热氧化工艺中,虚设晶圆不会被氧化,从而减少了虚设晶圆的消耗,降低了生产成本,并且避免了由于虚设晶圆被氧化而产生的颗粒物,使欲氧化晶圆免于沾染。 |
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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确认变更
成功 - 06 支付尾款
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