专利详情

专利名称	用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法
申请号	CN200810119122.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101339004	公开（授权）日	2009.01.07
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	魏凌;姚平;王海英;刘进舟;魏凯;饶长辉;饶学军;张雨东
主分类号	G01B11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/02(2006.01)I;G02B26/06(2006.01)I
专利有效期	用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法至用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法，其特征在于：所述的用于哈特曼波前探测器的基于DFT的质心偏移量检测方法在计算一子孔径某一方向上的质心偏移量时，先分别将该孔径的参考图像和待检测图像的灰度在这一方向累积，然后将累积所得到的向量分别进行DFT变换，接着计算变换后得到的向量的相位差向量，并将此相位差向量解卷绕，通过一次线性拟合得到相位差向量的斜率，最后由该斜率计算出待检测的图像与参考图像质心的相对偏移量；本探测器的质心检测方法流程简单、稳定，易实现，相对于现有质心偏移探测技术，能够很好的抑制噪声带来的影响，得到较高、较稳定的质心偏移量探测精度，且便于移植，因而可以得到较好、较稳定的波前探测精度。