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一种干涉仪光路系统

  • 申请号:CN200810123021.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院安徽光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN101324521
  • 公开(公开)日:2008.12.17
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种干涉仪光路系统
申请号 CN200810123021.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101324521 公开(授权)日 2008.12.17
申请(专利权)人 中国科学院安徽光学精密机械研究所 发明(设计)人 魏秀丽;陆亦怀;高闽光;陈军
主分类号 G01N21/45(2006.01)I IPC主分类号 G01N21/45(2006.01)I;G02B17/06(2006.01)I
专利有效期 一种干涉仪光路系统 至一种干涉仪光路系统 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种干涉仪光路系统,光源放置的位置正好在抛物镜(1)的焦平面 上,光源发出的光通过抛物镜(1)变为平行光射到干涉仪的分束片(2)上,干涉仪 出射的平行光经过平面镜(3)反射到抛物镜(4),然后再经过抛物镜(5)和(6)的 反射到达探测器上。抛物镜(1、4、5、6)的抛物线方程是相同的,即有相同的焦点。 抛物镜(4)和(5)间的距离正好是2倍的焦距,这样经过抛物镜(4)的光束会聚在 抛物镜(4)和抛物镜(5)中间的位置,也就是他们2个焦平面的中心,此中心就是 测量样品时的位置,探测器(7)放置的位置在抛物镜(6)的焦平面上,抛物镜(6) 接收到的平行光正好会聚到探测器(7)上。本发明降低了光束的倾斜度,结构简单, 调节方便,会聚和发散光的效率高,提高了红外吸收光谱定量和定性检测的精确度, 促进了傅里叶变换红外光谱仪在大气环境检测方面的快速发展。

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