专利详情

专利名称	RFID标签响应频率基准测试系统及方法
申请号	CN200910237841.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101782608A	公开（授权）日	2010.07.21
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	刘禹;朱智源;李秀萍
主分类号	G01R23/16(2006.01)I	IPC主分类号	G01R23/16(2006.01)I
专利有效期	RFID标签响应频率基准测试系统及方法至RFID标签响应频率基准测试系统及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种RFID标签响应频率基准测试系统及方法，该系统由标准测试环境、信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成，该方法是在保持输入能量相同的情况下，通过分析一款RFID标签产品在不同测试频带内的响应特性，得到待测试RFID标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过模拟读写器读RFID标签信号实现对RFID频率范围进行测试，可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。