一种子孔径高度计回波视配准装置及方法
- 申请号:CN201110058861.1
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院空间科学与应用研究中心
- 公开(公开)号:CN102207546A
- 公开(公开)日:2011.10.05
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种子孔径高度计回波视配准装置及方法 | ||
申请号 | CN201110058861.1 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102207546A | 公开(授权)日 | 2011.10.05 |
申请(专利权)人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明(设计)人 | 王志森;许可;杨双宝;刘和光 |
主分类号 | G01S7/41(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/41(2006.01)I;G01S13/08(2006.01)I |
专利有效期 | 一种子孔径高度计回波视配准装置及方法 至一种子孔径高度计回波视配准装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提供一种子孔径高度计回波视配准方法,包含步骤如下:首先,将信号乘以频率变标函数,去除距离弯曲的空变性;然后,进行距离向的逆傅里叶变换,再乘以某一函数的逆傅里叶变换的共轭,即剩余视频相位校正函数,完成剩余视频相位校正,即“去斜”处理;最后,乘以如下逆频率变标函数:消除频率变标函数引入的一个二次相位误差,完成变标处理;对变标完成的信号乘以一线性相位函数进行距离徙动校正完成视距离向配准;对得到的视距离配准的子视进行方位压缩,得到一个孔径对应的压缩子视;对得到的所有压缩子视进行方位向配准,提取方位配准后的各等效子视单元用于后续的跟踪估计或成像处理。 |
交易流程
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专利 -
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