专利详情

专利名称	一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置
申请号	CN201010291996.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102411129A	公开（授权）日	2012.04.11
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	赵鼎;陆熙;阮存军;王勇
主分类号	G01R33/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01R33/02(2006.01)I
专利有效期	一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置至一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置，涉及微波器件技术，包括四个主要部分：调节旋钮组件、磁钢固定板组件、矩形支架以及装置托架。该装置可以在一定范围内精确调节PCM聚焦系统中两组相对聚焦平面之间的距离，通过可拆卸机构可广泛适应不同的聚焦方案，并可为磁测量探针提供确定的运动路径。本发明装置针对带状电子注器件的研制和测试，具有调节精度高、通用性强、操作简便的优点，能够满足实际工程中对PCM聚焦系统进行精密调节和测量以及优选聚焦方案的要求。