具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪
- 申请号:CN200810239334.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
- 公开(公开)号:CN101750446A
- 公开(公开)日:2010.06.23
- 法律状态:实质审查的生效
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪 | ||
申请号 | CN200810239334.9 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101750446A | 公开(授权)日 | 2010.06.23 |
申请(专利权)人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明(设计)人 | 杨海钢;吴其松;崔秀海 |
主分类号 | G01N27/416(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/416(2006.01)I |
专利有效期 | 具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪 至具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪,涉及传感器微弱电流检测技术,包括一个跨导运算放大器(OTA),一个NMOS管,一个用于快速充电的开关,片内和片上稳压和滤噪声电容。跨导放大器(OTA)输出端接NMOS的栅极,NMOS的源极接运算放大器的反相输入端,组成一个电流传输器,NMOS漏极作为恒电位仪的输出端;开关跨接在跨导放大器的正、反相输入端,开关的控制端接系统的置位端。本发明能增强传感器工作电极电压的稳定,并能使电路在检测任何大小的电流时都能快速进入检测状态,本发明的恒电位仪使NMOS漏端更接近理想的恒流源输出。 |
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接,价格透明
2、平台验证,实名审核
3、合同监控,代办手续
4、专员跟进,交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言