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具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪

  • 申请号:CN200810239334.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
  • 公开(公开)号:CN101750446A
  • 公开(公开)日:2010.06.23
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪
申请号 CN200810239334.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101750446A 公开(授权)日 2010.06.23
申请(专利权)人 中国科学院电子学研究所 发明(设计)人 杨海钢;吴其松;崔秀海
主分类号 G01N27/416(2006.01)I IPC主分类号 G01N27/416(2006.01)I
专利有效期 具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪 至具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种具有快速稳定特性的互补-金属-氧化物半导体恒电位仪,涉及传感器微弱电流检测技术,包括一个跨导运算放大器(OTA),一个NMOS管,一个用于快速充电的开关,片内和片上稳压和滤噪声电容。跨导放大器(OTA)输出端接NMOS的栅极,NMOS的源极接运算放大器的反相输入端,组成一个电流传输器,NMOS漏极作为恒电位仪的输出端;开关跨接在跨导放大器的正、反相输入端,开关的控制端接系统的置位端。本发明能增强传感器工作电极电压的稳定,并能使电路在检测任何大小的电流时都能快速进入检测状态,本发明的恒电位仪使NMOS漏端更接近理想的恒流源输出。

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