一种斜面光接收的光电探测器
- 申请号:CN200710099874.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN101315955
- 公开(公开)日:2008.12.03
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种斜面光接收的光电探测器 | ||
申请号 | CN200710099874.7 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101315955 | 公开(授权)日 | 2008.12.03 |
申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 申华军;李志华;杨成樾;万里兮;李宝霞 |
主分类号 | H01L31/105(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L31/105(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I |
专利有效期 | 一种斜面光接收的光电探测器 至一种斜面光接收的光电探测器 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及光互联通信的光电探测器件技术领域,公开了一种斜面光 接收的光电探测器,该光电探测器光接收的有源区位于半导体衬底被腐蚀 后形成的V型槽的一个斜面上,有源区从斜面表面向外依次包括缓冲层、 n型欧姆接触层、本征层和p型欧姆接触层,有源区的上表面为单电极或 双电极。本发明提供的斜面光接收的光电探测器,有源区位于器件的斜面 上,能够与各种类型的电路板上的光波导实现直接光路耦合,不需要光路 传输方向的转变,形成简便高效的光探测接收端,简化了光路的耦合对准。 由于不需要光路传输方向的转变,因而也就不需要精密的光路对准装置, 使得工艺和对准的难度大大降低,成本下降,并减少了光损耗,提高了耦 合效率。 |
交易流程
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