扫描测试方法及电路
- 申请号：CN201210249748.6
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号：CN102749574A
- 公开(公开)日：2012.10.24
- 法律状态：授权
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专利详情
| 专利名称 | 扫描测试方法及电路 | ||
| 申请号 | CN201210249748.6 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN102749574A | 公开（授权）日 | 2012.10.24 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 陈岚;冯燕 |
| 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I |
| 专利有效期 | 扫描测试方法及电路 至扫描测试方法及电路 | 法律状态 | 授权 |
| 说明书摘要 | 本发明提供了一种扫描测试方法，对具有RAM的扫描链进行扫描测试，包括：将RAM进行初始化，以使RAM处于预定值；扫描链处于移位寄存器状态，进行测试向量的输入，并保持RAM预定值；扫描链处于工作状态，将激励加载至扫描链的初级输入端，捕获扫描链的测试输出值；扫描链处于移位寄存器状态，进行测试输出值的输出。不需要通过多个测试周期来获得RAM输出端的预定值，有效地减少测试周期从而减少测试时间。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
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05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
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2、平台验证，实名审核
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4、专员跟进，交易保障
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