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一种用于气液两相流状态的介质绝缘性能测量装置

  • 申请号:CN200810115465.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院电工研究所
  • 公开(公开)号:CN101308189
  • 公开(公开)日:2008.11.19
  • 法律状态:专利申请权、专利权的转移
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种用于气液两相流状态的介质绝缘性能测量装置
申请号 CN200810115465.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101308189 公开(授权)日 2008.11.19
申请(专利权)人 中国科学院电工研究所 发明(设计)人 牛文豪;张国强;王新
主分类号 G01R31/12(2006.01)I IPC主分类号 G01R31/12(2006.01)I
专利有效期 一种用于气液两相流状态的介质绝缘性能测量装置 至一种用于气液两相流状态的介质绝缘性能测量装置 法律状态 专利申请权、专利权的转移
说明书摘要 一种用于气液两相流状态下的介质绝缘性能测量的装置,加热装置(20)位于密封容 器(10)的底部,冷凝装置(90)处于密封容器(10)的上部。冷凝装置(90)开有穿出密 封容器(10)顶板的进水口(100)和出水口(110)。高压电极(50)和低压电极(60)处 于密封容器(10)的中部,从相对的两个方向穿入密封容器(10)内;密封容器(10)中加 入待测液体介质(40),加热装置(20)对液体介质(40)加热至沸腾两相流状态,液体介 质(40)沸腾蒸发后产生的蒸汽由冷凝装置(90)冷凝,变成液体,流回密封容器(10)底 部。本发明可用于各种液体介质在气液两相流状态下绝缘性能的测量,以及处于两相流状态 下液体介质环境中的固体绝缘材料的绝缘性能的测量。

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