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一种测量中低温熔体表面张力、密度和润湿性的装置和方法

  • 申请号:CN200810115050.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院过程工程研究所
  • 公开(公开)号:CN101308077
  • 公开(公开)日:2008.11.19
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种测量中低温熔体表面张力、密度和润湿性的装置和方法
申请号 CN200810115050.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101308077 公开(授权)日 2008.11.19
申请(专利权)人 中国科学院过程工程研究所 发明(设计)人 李建强;袁章福;窦磊
主分类号 G01N13/02(2006.01)I IPC主分类号 G01N13/02(2006.01)I;G01N13/00(2006.01)I;G01N9/00(2006.01)I
专利有效期 一种测量中低温熔体表面张力、密度和润湿性的装置和方法 至一种测量中低温熔体表面张力、密度和润湿性的装置和方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种测量中低温熔体表面张力、密度和润湿性的装置,涉及熔体 物性测量技术领域。该装置包括:加热设备(1)、透明石英炉管、光源 (8)、数码照相机(11)、计算机(12);透明石英炉管水平置于加热 设备(1)中,透明石英炉管的两端均伸出加热设备10~15cm。光源 (8)、数码照相机(11)和透明石英炉管处于同一水平线上;在计算 机(12)上安装软件实现与数码照相机(11)的在线连接,熔滴轮廓 动态变化直接在计算机显示器上动态显示,并在计算机上控制拍照和 动画拍摄。优点在于,可以方便地精确调节基板的水平,提高测量精 度和可重复性;密封性好,可选择真空、空气、高纯氩气等多种气氛; 能实现表面张力等热物性的在线测量;设备造价低,操作简便。

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