专利详情

专利名称	基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法
申请号	CN200810102778.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101261182	公开（授权）日	2008.09.10
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	李斌成;龚元;韩艳玲
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法至基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法，采用连续激光入射到初始衰荡腔，衰荡腔出射信号由透镜会聚后由光电探测器转换为电信号，并由数据采集卡记录，衰荡信号由计算机处理得到初始腔衰荡时间；然后插入待测平面镜构成测试衰荡腔，重复测量得到测试腔衰荡时间，并由两个衰荡时间计算得到待测平面镜的反射率。其特征在于：利用两块高反射平凹腔镜和一块高反射平面镜构成初始衰荡腔，激光束从高反射平面镜非垂直入射进初始衰荡腔，入射角保证从平面镜后向反射的一次反射光不进入激光器谐振腔；精确调节两块腔镜，使衰荡腔的频率选择性后向反射激光输出进入激光器谐振腔，形成频率选择性光反馈。