专利详情

专利名称	一种用于测量高反射率的装置
申请号	CN200810055653.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101261181	公开（授权）日	2008.09.10
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	李斌成;龚元;韩艳玲
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I;G01N21/55(2006.01)I
专利有效期	一种用于测量高反射率的装置至一种用于测量高反射率的装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种用于测量高反射率的装置，其中：光电探测器将光信号转换后的电信号由数据采集卡记录并输给计算机处理及存储，计算机同时控制数据采集卡的采集参数；其特征在于：入射腔镜和出射腔镜与平面高反镜共同构成稳定的初始衰荡腔，入射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡腔的入射臂，出射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡腔的出射臂；测试时，光源发出的光束经匹配透镜进入衰荡腔，会聚透镜和光电探测器置于平面高反镜后探测光腔输出信号，由光腔衰荡技术测得初始腔衰荡时间τ₁，在出射臂插入待测平面镜，调节出射腔镜，形成稳定的测试腔，同理可测得测试腔衰荡时间τ₂；计算可得待测平面镜反射率；本发明所改进的装置稳定性好、测量精度高、容易调节，适合开发高反射率测量仪器。