专利详情

专利名称	表面缺陷检测方法、装置
申请号	CN200810027040.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101256157	公开（授权）日	2008.09.03
申请（专利权）人	广州中国科学院工业技术研究院;中国科学院沈阳自动化研究所	发明（设计）人	邬纪泽;李伟;沈大刚
主分类号	G01N21/88(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/88(2006.01)I;G06T7/60(2006.01)I
专利有效期	表面缺陷检测方法、装置至表面缺陷检测方法、装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及检测领域，公开了一种表面缺陷检测方法、装置，方法包括：获取表面的原始图像；对原始图像的各像素点，分别计算每像素点在多个方向的梯度值，取其中最大值作为像素点的新的灰度值，得到梯度图像；对梯度图像，如果灰度值像素点的灰度值大于阈值，则将其灰度值赋值为：第一灰度值，否则赋值为：第二灰度值，获取二值化图像；细化二值化图像，得到单线条的二值化图像，其中包括单线条的缺陷边缘；将单线条的缺陷边缘，转换为闭环的缺陷边缘；在原始图像中，比较闭环的缺陷边缘内像素点与外侧附近的像素点的灰度值的大小，如果小于，则判定闭环的缺陷为：表面的缺陷。应用本技术方案能够实现对被检测物件的缺陷的自动检测，提高检测效率。