专利详情

专利名称	一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置
申请号	CN200710063609.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101241154	公开（授权）日	2008.08.13
申请（专利权）人	中国科学院空间科学与应用研究中心	发明（设计）人	吴季;张成;刘浩
主分类号	G01R29/08(2006.01)I	IPC主分类号	G01R29/08(2006.01)I
专利有效期	一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置至一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置，包括一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置，包括转动装置；还包括至少两个天线单元分别通过连接装置与转动装置相连，使得天线单元能够共轴地在同一平面内独立旋转；所述至少两个天线单元的相位中心到转动轴的距离有两种，分别为第一距离和第二距离，所述第一距离大于第二距离。本发明的优点在于：降低观测系统的复杂度，减少成本；提高系统的精确度和稳定性。