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生长氮化铟单晶薄膜的方法

  • 申请号:CN200710062979.5
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN101230487
  • 公开(公开)日:2008.07.30
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 生长氮化铟单晶薄膜的方法
申请号 CN200710062979.5 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101230487 公开(授权)日 2008.07.30
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 王晓亮;肖红领;胡国新;杨翠柏;冉学军;王翠梅;张小宾;李建平;李晋闽
主分类号 C30B29/38(2006.01)I IPC主分类号 C30B29/38(2006.01)I;C30B25/00(2006.01)I
专利有效期 生长氮化铟单晶薄膜的方法 至生长氮化铟单晶薄膜的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明一种生长氮化铟单晶薄膜的方法,其特征 在于,包括如下步骤:步骤1:选择一衬底;步骤2: 采用金属有机物化学气相沉积技术在衬底上生长一层 成核层,该成核层可增加衬底表面的成核密度;步骤 3:采用金属有机物化学气相沉积技术在成核层上生 长一层缓冲层,该缓冲层可减少外延层的缺陷密度, 提高晶体质量;步骤4:采用金属有机物化学气相沉 积技术在缓冲层上生长氮化铟单晶薄膜,该氮化铟单 晶薄膜表面平整,晶体质量高。

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