生长氮化铟单晶薄膜的方法
- 申请号:CN200710062979.5
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号:CN101230487
- 公开(公开)日:2008.07.30
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 生长氮化铟单晶薄膜的方法 | ||
申请号 | CN200710062979.5 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101230487 | 公开(授权)日 | 2008.07.30 |
申请(专利权)人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明(设计)人 | 王晓亮;肖红领;胡国新;杨翠柏;冉学军;王翠梅;张小宾;李建平;李晋闽 |
主分类号 | C30B29/38(2006.01)I | IPC主分类号 | C30B29/38(2006.01)I;C30B25/00(2006.01)I |
专利有效期 | 生长氮化铟单晶薄膜的方法 至生长氮化铟单晶薄膜的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明一种生长氮化铟单晶薄膜的方法,其特征 在于,包括如下步骤:步骤1:选择一衬底;步骤2: 采用金属有机物化学气相沉积技术在衬底上生长一层 成核层,该成核层可增加衬底表面的成核密度;步骤 3:采用金属有机物化学气相沉积技术在成核层上生 长一层缓冲层,该缓冲层可减少外延层的缺陷密度, 提高晶体质量;步骤4:采用金属有机物化学气相沉 积技术在缓冲层上生长氮化铟单晶薄膜,该氮化铟单 晶薄膜表面平整,晶体质量高。 |
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