专利详情

专利名称	采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法
申请号	CN201110182014.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102279288A	公开（授权）日	2011.12.14
申请（专利权）人	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	发明（设计）人	徐耿钊;刘争晖;钟海舰;樊英民;徐科
主分类号	G01Q60/24(2010.01)I	IPC主分类号	G01Q60/24(2010.01)I
专利有效期	采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法至采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供了一种采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置，包括导电原子力探针、电源、探针控制器、第一电流计、第二电流计、样品台以及样品；样品置于样品台上，样品内部包括一界面；电源、导电原子力探针和样品相互串联组成了第一电学回路，第一电流计测量此第一电学回路中的电流；样品下表面和样品上表面通过外接导线组成第二电学回路，第二电流计用于测量此第二电学回路中的电流，探针控制器与导电原子力探针以及样品连接，用于捕捉导电原子力探针与样品之间的力学信号。