专利详情

专利名称	一种基于牛顿法和泰伯效应的微透镜阵列焦距的检测方法
申请号	CN201210319870.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102788683A	公开（授权）日	2012.11.21
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	朱咸昌;伍凡;曹学东;吴时彬
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种基于牛顿法和泰伯效应的微透镜阵列焦距的检测方法至一种基于牛顿法和泰伯效应的微透镜阵列焦距的检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种基于牛顿法和泰伯效应的微透镜阵列焦距的检测方法，属于光学检测领域。利用郎奇光栅的泰伯效应，平行光经过郎奇光栅的泰伯自成像周期与光栅周期一致，将星点板置于被测微透镜的物方焦点位置；利用微移台调节星点板并确定星点板的焦物距；由光栅的泰伯自成像周期变化可计算出星点板离焦时，微透镜出射球面波前的曲率半径即微透镜成像的像距；根据像距与焦像距的位置关系，结合牛顿公式，可完成微透镜的焦距测量。该方法操作简便易行，且具有较高的测量精度。