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全光场偏振像差检测装置

  • 申请号:CN201220130320.5
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN202693266U
  • 公开(公开)日:2013.01.23
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 全光场偏振像差检测装置
申请号 CN201220130320.5 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN202693266U 公开(授权)日 2013.01.23
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 曹绍谦;步扬;步鹏;王向朝;张敏;汤飞龙;李中梁
主分类号 G01M11/02(2006.01)I IPC主分类号 G01M11/02(2006.01)I
专利有效期 全光场偏振像差检测装置 至全光场偏振像差检测装置 法律状态 授权
说明书摘要 一种全光场偏振像差检测装置,该装置包括:全偏振态发生器、全偏振态分析器及信号处理和控制系统。本实用新型具有结构简单、共光轴且稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。

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