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大视场杂散光PST测试装置

  • 申请号:CN201220325628.5
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN202710290U
  • 公开(公开)日:2013.01.30
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 大视场杂散光PST测试装置
申请号 CN201220325628.5 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN202710290U 公开(授权)日 2013.01.30
申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 徐亮;赵建科;周艳;刘峰;张周峰;胡丹丹;张洁
主分类号 G01M11/02(2006.01)I IPC主分类号 G01M11/02(2006.01)I
专利有效期 大视场杂散光PST测试装置 至大视场杂散光PST测试装置 法律状态 授权
说明书摘要 一种大视场杂散光PST测试装置,包括大动态范围光源、平行光管、洁净室、高负载转台、EMCCD以及数据采集及处理系统;平行光管设置在大动态范围光源的出射光路上;EMCCD设置在高负载转台上并与数据采集及处理系统电性相连;大动态范围光源与数据采集及处理系统电性相连;高负载转台设置在经平行光管后的出射光路上;大动态范围光源、平行光管、高负载转台、EMCCD以及数据采集及处理系统设置在洁净室内部。本实用新型提供了一种能够有效的在地面对航天相机遮光罩的杂散光抑制能力进行考核、对相机的整机信噪比进行估算、可保证航天相机发射上天后能够清晰成像以及具有超大视场和高精度的大视场杂散光PST测试装置。

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