专利详情

专利名称	用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电路
申请号	CN200410004831.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1558251	公开（授权）日	2004.12.29
申请（专利权）人	中国科学院计算技术研究所	发明（设计）人	韩银和;李晓维
主分类号	G01R31/28	IPC主分类号	G01R31/28;G01R31/303
专利有效期	用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电路至用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电路	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及大规模集成电路结构性测试技术领域，特别是一种用于交流扫描测试中的片上快速信号生成电路。由模式计数器，二路选择器，与非门，三输入与门，自锁的存储单元组成。该电路具有可重配置、只需要高速时钟、结构简单、延迟小的特点。模式计数器在配置阶段根据配置信号输入设置模式计数器中的值，此时以低速运行。模式计数器在计数状态以快速运行，根据模式字的内容产生调制信号和高速时钟及电路使能信号进行简单运算后即可生成需要的快速捕捉信号。该捕捉信号可以应用于交流测试中，也可以应用于桥接故障诊断中作为快速捕捉信号。本发明提出的电路具有和待测电路无关的特性，因此可以作为一个独立的内核应用于系统级芯片(SOC)测试。