
一种用于扫描探针显微镜的金薄膜基底制作方法
- 申请号:CN200410010647.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春应用化学研究所
- 公开(公开)号:CN1558424
- 公开(公开)日:2004.12.29
- 法律状态:授权
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专利详情
专利名称 | 一种用于扫描探针显微镜的金薄膜基底制作方法 | ||
申请号 | CN200410010647.9 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN1558424 | 公开(授权)日 | 2004.12.29 |
申请(专利权)人 | 中国科学院长春应用化学研究所 | 发明(设计)人 | 李壮;刘志国;马智勇;吴爱国;周化岚;魏刚 |
主分类号 | G12B21/00 | IPC主分类号 | G12B21/00;H01J37/20;G01N13/10 |
专利有效期 | 一种用于扫描探针显微镜的金薄膜基底制作方法 至一种用于扫描探针显微镜的金薄膜基底制作方法 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 本发明属于扫描探针显微镜中基底的制作方法。 通过真空蒸镀的方法,在新解离的云母表面镀一层金薄膜,然 后将此薄膜剥离于硅片的表面得到较平的金基底。此基底具有 很好的平整度,可用做纳米笔书写,硫醇的自组装体系,生物 分子DNA及蛋白质的原子力显微镜的可视化研究。 |
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