专利详情

专利名称	基于附加测试的多参数系统错误模式快速定位方法
申请号	CN201010539469.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102073584A	公开（授权）日	2011.05.25
申请（专利权）人	中国科学院软件研究所	发明（设计）人	张智强;张健
主分类号	G06F11/36(2006.01)I	IPC主分类号	G06F11/36(2006.01)I
专利有效期	基于附加测试的多参数系统错误模式快速定位方法至基于附加测试的多参数系统错误模式快速定位方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于附加测试的多参数系统错误模式快速定位方法，本发明所述方法主要包括以下步骤：1)确定待测系统的输入参数个数k和每个输入参数vi的取值范围si，i取值范围为1到k之间的整数；2)获得一条在黑盒测试中运行不通过的测试用例(v1，v2，...，vk)，称为种子测试用例；3)以种子测试用例为基础，用替换多个参数取值的方法生成和运行附加测试用例，查找其中的一个错误模式，查找期间保持已找到错误模式中包含的固定参数的取值与种子测试用例不同，且替换参数取值时直接跳过错误模式中包含的固定参数；4)重复执行步骤3)直到找不到新的错误模式；5)所有在步骤3)中找到的错误模式就是多参数系统中错误模式定位的结果。与现有技术相比，本发明的方法减少了附加测试用例的数量，对多个错误模式仍能得出正确的诊断结果，提高了诊断能力。